机译:扫描探针技术测量超薄水膜厚度的比较研究
机译:通过扫描透射X射线显微镜研究CO超薄膜的厚度依赖性磁畴结构
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机译:使用AFM测量超薄膜的厚度
机译:通过扫描热探针法对非接触式和接触式探针与样品之间的热交换进行分析,以定量测量薄膜和纳米结构的热导率。
机译:用数字图像投影(DIP)技术测量曲面上的水滴/薄膜的厚度
机译:超薄材料厚度测量的比较研究 通过扫描探针技术的水膜
机译:慢速轻载弹性动力接触件薄膜厚度效应分析第一部分薄膜厚度测量技术的发展