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【2h】

Experimenting with evolutionary meta-heuristics for state justification in sequential ATPG

机译：试验顺序aTpG中的状态证明的进化元启发式算法

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作者
Shazli Syed Zafar;
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年度 2001
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1. Evolutionary algorithms for state justification in sequential automatic test pattern generation [J] . Aiman H El-Maleh, Sadiq M Sait, Syed Z Shazli International Journal of Engineering Intelligent Systems for Electrical Engineering and Communications . 2005,第1期

机译：顺序自动测试模式生成中用于状态证明的进化算法
2. Sequential circuit ATPG using combinational algorithms [J] . Xiaoming Yu, Abramovici M. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems . 2005,第8期

机译：使用组合算法的顺序电路ATPG
3. A Method of Test Generation for Acyclic Sequential Circuits Using Single Stuck-at Fault Combinational ATPG [J] . Hideyuki ICHIHARA, Tomoo INOUE IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences . 2003,第12期

机译：基于单滞留故障组合式ATPG的非循环时序电路测试生成方法
4. An evolutionary meta-heuristic for state justification in sequential automatic test pattern generation [C] . El-Maleh, A.H., Sait, . 2001

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5. Sequential Design of Experiments for Anomaly Detection [D] . Wang, Chao. 2018

机译：异常检测实验的顺序设计
6. Evolutionary justifications for human reproductive limitations [O] . Mark Lubinsky 2018

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7. An Evolutionary Meta-Heuristic for State Justification in Sequential Automatic Test Pattern Generation [O] . El-Maleh Aiman H., Sait Sadiq M., Shazli Syed Z. 2001

机译：序贯自动测试模式生成中状态对齐的进化元启发式算法

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