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【2h】

Interferometric measurements of the thickness of nematic liquid crystal films with a free surface

机译:具有自由表面的向列液晶膜厚度的干涉测量

摘要

[[abstract]]We demonstrate two interferometric methods for measuring the thickness of nematic liquid crystal films with a free surface. The accuracy of either method is better than ±1 %.
机译:[[摘要]]我们展示了两种干涉法来测量具有自由表面的向列液晶膜的厚度。两种方法的精度均优于±1%。

著录项

  • 作者

    Shyu-Mou Chen;

  • 作者单位
  • 年度 2014
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 [[iso]]en
  • 中图分类

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