机译:使用C-60溅射的X射线光电子能谱深度剖析有机薄膜
机译:使用C-60(+)和Ar +共溅射的X射线光电子能谱对有机膜进行深度分析
机译:反应磁控溅射沉积La2O3 / Si薄膜的X射线光电子能谱深度分析
机译:X射线光电子能谱法研究非晶InGaZnO4薄膜晶体管的深度轮廓
机译:X射线光电子能谱研究水溶液/液界面的溶质深度分布和黄铁矿薄膜的表面结构。
机译:X射线光电子能谱飞行时间二次离子质谱法和含NHS的有机薄膜的水解再生和反应性的主成分分析
机译:使用C60溅射的有机薄膜的X射线光电子能谱深度分析
机译:导电聚合物薄膜中空间控制微结构的X射线光电子能谱溅射深度剖面分析