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Resonant Raman scattering by elementary electronic excitations in semiconductor structures

机译:半导体结构中基本电子激发的共振拉曼散射

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摘要

[[abstract]]We explain quantitatively why resonant Raman scattering spectroscopy, an extensively used experimental tool in studying elementary electronic excitations in doped low-dimensional semiconductor nanostructures, always produces an observable peak at the so-called "single particle" excitation although the standard theory predicts that there should be no such single particle peak in the Raman spectra. We have thus resolved an experimental puzzle which dates hack more than 25 years.
机译:[[摘要]]我们定量解释了为什么共振拉曼散射光谱法是研究掺杂的低维半导体纳米结构中的基本电子激发的一种广泛使用的实验工具,尽管该标准将共振拉曼散射光谱法始终在所谓的“单个粒子”激发处产生一个可观察到的峰。理论预测在拉曼光谱中不应有这样的单个粒子峰。因此,我们解决了一个实验难题,该难题可追溯到黑客入侵已有25年了。

著录项

  • 作者

    Das Sarma S;

  • 作者单位
  • 年度 2011
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 [[iso]]en
  • 中图分类

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