AI写作工具
文献服务
退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
机译:上层和基板CdTe光伏器件中少数载流子寿命测量的比较:预印
Gessert, T. A.; Dhere, R. G.; Duenow, J. N.; Kuciauskas, D.; Kanevce, A.; Bergeson, J. D.;
机译:n型MBE HgCdTe在可变基板上的少数载流子寿命的测量
机译:三种瞬态衰减技术同时测量单晶CdTe中的少数载流子寿命
机译:上覆和基板CdTe光伏器件中少数载流子寿命测量的比较
机译:使用反向恢复瞬态方法测量纳米晶硅器件中少数载流子的寿命。
机译:用于非接触氧化过程表征和炉分析的少数载流子寿命测量
机译:使用反向恢复瞬态方法测量纳米晶硅器件中少数载流子的寿命
机译:少数族裔携带者的有效寿命测量方法和少数族裔携带者的有效寿命测量装置
机译:半导体器件中少数载流子扩散长度和少数载流子寿命的无损测量方法
抱歉,该期刊暂不可订阅,敬请期待!
目前支持订阅全部北京大学中文核心(2020)期刊目录。