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Tomographic imaging and scanning thermal microscopy: thermal impedance tomography

机译:断层成像和扫描热显微镜:热阻抗断层扫描

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摘要

The application of tomographic imaging techniques developed for medical applications to the data provided by the scanning thermal microscope will give access to true three-dimensional information on the thermal properties of materials on a mm length scale. In principle, the technique involves calculating and inverting a sensitivity matrix for a uniform isotropic material, collecting ordered data at several modulation frequencies, and multiplying the inverse of the matrix with the data vector. In practice, inversion of the matrix in impractical, and a novel iterative technique is used. Examples from both simulated and real data are given.
机译:为医学应用而开发的断层成像技术将应用到扫描热显微镜提供的数据中,将可以访问有关毫米热度的材料热特性的真实三维信息。原则上,该技术涉及为均匀各向同性的材料计算和求出灵敏度矩阵,在几个调制频率下收集有序数据,并将矩阵的逆与数据向量相乘。在实践中,矩阵求逆是不切实际的,并且使用了一种新颖的迭代技术。给出了来自模拟和真实数据的示例。

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