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Comparative soft error evaluation of layout cells in finfet technology

机译：Finfet技术中布局单元的比较软错误评估

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Artola, L.; Hubert, G; Alioto, M.;
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年度 2014
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1. Comparative soft error evaluation of layout cells in FinFET technology [J] . L. Artola, G. Hubert, M. Alioto Microelectronics & Reliability . 2014,第9a10期

机译：FinFET技术中布局单元的比较软错误评估
2. Comparative Evaluation of Layout Density in 3T, 4T, and MT FinFET Standard Cells [J] . Alioto M. Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE Transactions on . 2011,第5期

机译：比较评估3T，4T和MT FinFET标准单元中的布局密度
3. Simulation and Experimental Evaluation of a Soft Error Tolerant Layout for SRAM 6T Bitcell in 65nm Technology [J] . Li Lixiang, Li Yuanqing, Wang Haibin, Journal of Electronic Testing: Theory and Applications: Theory and Applications . 2015,第5a6期

机译：65nm技术中SRAM 6T位单元的软容错布局的仿真和实验评估
4. Multi-cell soft errors at the 16-nm FinFET technology node [C] . Tam N., Bhuva B.L., Massengill L.W., IEEE International Reliability Physics Symposium . 2015

机译：16纳米FinFET技术节点处的多单元软错误
5. Design and Performance Evaluation of 8T SRAM Cell Using FinFET and CMOS at 16nm Technology [D] . Mandadi, Prasanth. 2021

机译：在16NM技术中使用FinFET和CMOS的8T SRAM单元的设计与性能评估
6. Comparative exploration of multidimensional flow cytometry software: a model approach evaluating T cell polyfunctional behavior [O] . Timothy T. Spear, Michael I. Nishimura, Patricia E. Simms -1

机译：多维流式细胞仪软件的比较探索：评估T细胞多功能行为的模型方法
7. Comparative soft error evaluation of layout cells in finfet technology [O] . Artola, L., Hubert, G, Alioto, M. 2014

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