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InGaN light-emitting diodes with indium-tin-oxide sub-micron lenses patterned by nanosphere lithography

机译:InGaN发光二极管,具有通过纳米球光刻图案化的氧化铟锡亚微米透镜

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摘要

Close-packed micro-lenses with dimensions of the order of wavelength have been integrated onto the indium-tin-oxide (ITO) layer of GaN light-emitting diodes employing nanosphere lithography. The ITO lens arrays are transferred from a self-assembled silica nanosphere array by dry etching, leaving the semiconductor layer damage-free. An enhancement of up to 63.5% on optical output power from the lensed light-emitting diode (LED) has been observed. Lens-patterned LEDs are also found to exhibit reduced emission divergence. Three-dimensional finite-difference time-domain simulations performed for light extraction and emission characteristics are found to be consistent with the observed results. © 2012 American Institute of Physics.
机译:使用纳米球刻蚀技术将具有波长数量级的密排微透镜集成到GaN发光二极管的铟锡氧化物(ITO)层上。通过干法刻蚀将ITO透镜阵列从自组装的二氧化硅纳米球阵列中转移出来,从而使半导体层无损伤。已观察到透镜发光二极管(LED)的光输出功率提高了63.5%。还发现透镜图案的LED表现出减小的发散度。发现对光提取和发射特性执行的三维有限差分时域仿真与观察到的结果一致。 ©2012美国物理研究所。

著录项

  • 作者

    Li KH; Choi HW; Zhang Q;

  • 作者单位
  • 年度 2012
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类

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