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Surface Patterson function by inversion of low-energy electron diffraction I-V spectra at multiple incident angles

机译:表面patterson通过在多个入射角处反演低能电子衍射I-V光谱来起作用

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摘要

An artifacts-free Patterson function was obtained from the sum of transforms of low energy electron diffraction intensity-energy spectra at multiple incident angle and momenta transfers. Normal incidence measured spectra and calculated spectra at three angles of incidence were used to demonstrate this phenomena. The Patterson function was found to be highly accurate in determining the pairwise atomic distances in the horizontal direction.
机译:从低能电子衍射强度-能谱在多个入射角和矩转移下的转换总和获得了无伪像的帕特森函数。使用法向入射测量光谱和三个入射角的计算光谱来证明这种现象。发现帕特森函数在确定水平方向上的成对原子距离方面非常准确。

著录项

  • 作者

    Tong SY; Wu H;

  • 作者单位
  • 年度 2001
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类

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