机译:NH3掺杂的ALD HfTiO栅极电介质改善了多层MoS2晶体管的电性能
机译:HFO2封装对少数层MOS2晶体管电气性能的影响,用ALD HFO2作为背栅电介质
机译:提高了具有通过Al2O3电介质完全封装的通道的顶门多层MOS2晶体管的性能
机译:具有ALD HfTiO栅极电介质的多层MoS2晶体管的电性能
机译:ALD二氧化锆栅极电介质的材料和电性能。
机译:通过后退火实现具有高k Al2O3栅极电介质的溶胶-凝胶IGZO晶体管的电气性能的改善
机译:具有NH3退火的ALD HfTiO栅极电介质的多层MoS2晶体管的改进电性能