机译:高场应力薄氧化物中填充阱的正向门控二极管测量
机译:15 nm热氮化氧化物的电荷俘获和高场耐受性的表征
机译:高场电流脉冲应力作用下二氧化硅横向不均匀电荷产生和应力诱导漏电流的潜在损伤研究
机译:高场应力下N / sub 2 / O处理的NH / sub 3 /氮化氧化物的电荷俘获特性
机译:金属氧化物半导体器件中硅/二氧化硅界面粗糙度和界面捕获电荷的低温测量。
机译:Cu2ZnGeS4的电荷转移和电子性质机理的高场磁输运研究
机译:具有氮化栅极氧化物的3C和4H-SiC MOS电容器的电荷俘获特性
机译:低温mOs(金属氧化物 - 硅)氧化物中的电荷俘获