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An inverse ellipsometric problem for thin film characterization: comparison of different optimization methods

机译：用于薄膜表征的反椭偏问题：不同优化方法的比较

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Akbalik, Ayse; Soulan, Sébastien; Tortai, Jean-Hervé; Fuard, David; Kone, Issiaka; Hazart, Jérôme; Schiavone, Patrick;
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年度 2009
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