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【2h】

Robust Hybrid TFET-MOSFET Circuits in Presence of Process Variations and Soft Errors

机译：存在工艺变化和软错误的鲁棒混合TFET-MOSFET电路

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机译：国际观众

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Hemmat, Maedeh; Kamal, Mehdi; Afzali-Kusha, Ali; Pedram, Massoud;
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年度 2016
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1. Hybrid TFET-MOSFET circuit: A solution to design soft-error resilient ultra-low power digital circuit [J] . Hemmat Maede, Kamal Mehdi, Afzali-Kusha Ali, Integration . 2017,第mara期

机译：混合TFET-MOSFET电路：一种设计软错误弹性超低功率数字电路的解决方案
2. Soft Error Rate Reduction of Combinational Circuits Using Gate Sizing in the Presence of Process Variations [J] . Mohsen Raji, Behnam Ghavami Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE Transactions on . 2017,第1期

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3. Robust Register Caching: An Energy-Efficient Circuit-Level Technique to Combat Soft Errors in Embedded Processors [J] . Fazeli M., Namazi A., Miremadi S. G. Device and Materials Reliability, IEEE Transactions on . 2010,第2期

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4. Robust Hybrid TFET-MOSFET Circuits in Presence of Process Variations and Soft Errors [C] . Maedeh Hemmat, Mehdi Kamal, Ali Afzali-Kusha, IFIP WG 10.5/IEEE international conference on very large scale integration . 2017

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8. Techniques for Improving the Robustness of an Adaptive Predictive Coder in the Presence of Channel Errors [R] . Singer, E. 1980

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