首页> 外文OA文献 >Cavity phase-shift method for absolute reflectance measurements
【2h】

Cavity phase-shift method for absolute reflectance measurements

机译:用于绝对反射测量的腔相移方法

代理获取
本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务,本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文,但由于OA文献来源多样且变更频繁,仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况,如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

摘要

Puolijohdepeilejä kehitettäessä on oleellista pystyä mittaamaan peilien heijastavuus erittäin tarkasti. Optisille peileille tehtävät tarkat heijastusmittaukset voivat kuitenkin olla erittäin haastavia, kun heijastavuus lähenee sataa prosenttia. Tässä työssä perehdyttiin kaviteetin vaihesiirtoon perustuvaan heijastusmittausmenetelmään (engl. cavity phase-shift method, CAPS). Lisäksi työssä rakennettiin kyseinen mittausjärjestelmä ja suoritettiin mittauksia sekä kaupallisille laserpeileille että puolijohdepeilille.Laserpeilien toiminta perustuu yleisesti Braggin peilin (engl. distributed Bragg reflector, DBR) toimintaperiaatteeseen. Näitä peilejä käytetään muun muassa pintaemittoivissa puolijohdekiekkolasereissa (engl. semiconductor disk lasers, SDLs). DBR-peilit koostuvat periodisesta rakenteesta, jossa on vuoronperään korkea- ja matalataitekertoimisia ohutkalvoja. Näiden kerrosten optinen paksuus on neljännes maksimiheijastuksen aallonpituudesta. Kerrosparien lukumäärän kasvaessa DBR-peilin heijastus lähenee sataa prosenttia. Pintaemittoivien puolijohdelaserien valmistuksessa DBR-kerrosparien lukumäärän optimointi on tärkeää, koska jokainen kerrospari aiheuttaa rakenteeseen ylimääräistä jännittyneisyyttä, joka voi myöhemmin purkautua kidevirheiden kautta. Kerrosparit aiheuttavat myös lämpövastusta ja siten pienentävät laserin maksimitehoa. Kaviteetin vaihesiirtoon perustuvan heijastusmittausmenetelmän esitteli ensimmäistä kertaa Herbelin vuonna 1980. Tässä työssä käytetään modifioitua järjestelmää, joka koostuu edullisemmista komponenteista ja on toteutukseltaan yksinkertaisempi. Mittausjärjestelmän toiminta perustuu kahdesta tai useammasta peilistä muodostettuun kaviteettiin. Kun amplitudimoduloitu lasersäde ohjataan kaviteetin optiselle akselille, niin modulaatio kokee vaihesiirron johtuen fotonien äärellisestä elinajasta kaviteetissa. Mittaamalla vaihesiirron suuruus, pystytään määrittämään fotonien elinaika kaviteetissa, joka on liittyy suoraan kaviteetissa tapahtuvien häviöiden määrään. Olettaen, että kaviteetin häviöt johtuvat lähinnä peilien läpäisevyydestä, voidaan tästä johtaa kaviteetin muodostamien peilien kokonaisheijastavuus. Puolijohdepeilille, joka koostui 26:sta AlAs/GaAs-peiliparista, mitattiin heijasta-vuudeksi 99.97 %, simuloidun tuloksen ollessa 99.95 %.
机译:在开发半导体镜时,必须能够非常精确地测量镜的反射率。但是,随着反射率接近100%,在光学镜上进行精确的反射率测量可能会非常具有挑战性。在这项工作中,介绍了腔相移方法(CAPS)。此外,建立了该测量系统,并在商用激光镜和半导体镜上进行了测量,激光镜的操作通常基于分布式布拉格反射器(DBR)的操作原理。这些反射镜尤其用于半导体磁盘激光器(SDL)中。 DBR镜由周期性结构和交替的高折射率和低折射率薄膜组成。这些层的光学厚度是最大反射波长的四分之一。随着层对数量的增加,DBR镜的反射率接近100%。在表面发射半导体激光器的制造中,优化DBR层对的数量很重要,因为每个层对都会对结构产生额外的应力,这些应力随后会通过晶体缺陷排出。层对也会引起热阻,从而降低激光器的最大功率。 Herbel于1980年首次提出了基于腔体相移的反射测量方法。这项工作使用了一种改进的系统,该系统包括更便宜的组件和更简单的实现。测量系统的操作基于由两个或多个反射镜形成的腔。当调幅的激光束指向腔的光轴时,由于腔中光子的有限寿命,调制会经历相移。通过测量相移的大小,可以确定腔中光子的寿命,该寿命与腔中的损耗量直接相关。假设腔损耗主要是由于反射镜的渗透性造成的,则由此得出的由腔形成的反射镜的全反射率。对于由26对AlAs / GaAs反射镜组成的半导体反射镜,反射率测得为99.97%,模拟结果为99.95%。

著录项

  • 作者

    Tavast Miki;

  • 作者单位
  • 年度 2014
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 fi
  • 中图分类

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号