Low power address generator for memory built-in self-test

机译：低功耗地址发生器，用于存储器内置自检

代理获取

本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务，本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文，但由于OA文献来源多样且变更频繁，仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况，如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

页面导航

摘要
著录项
引文网络
相似文献
相关主题

摘要

Computer Hardware Abuissa,Abdallatif:

机译：阿卜杜拉蒂夫（Abdullatif）计算机硬件Apis：

著录项

作者
Awad Ahmed N.; Abu Issa Abdallatif;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 2011
总页数
原文格式 PDF
正文语种 en
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. A saboteur and mutant based built-in self-test and counting threshold-based built-in self repairing mechanism for memories [J] . Gopalan Karthy, Pothiraj Sivakumar Journal of ambient intelligence and humanized computing . 2021,第6期

机译：基于破碎和突变体的内置自我测试和计数基于阈值的内置自修复机制，用于存储器
2. Low-Power Scan-Based Built-In Self-Test Based on Weighted Pseudorandom Test Pattern Generation and Reseeding [J] . Dong Xiang, Xiaoqing Wen, Laung-Terng Wang IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems . 2017,第3期

机译：基于加权伪随机测试码型生成和重播的基于低功耗扫描的内置自测
3. A Low Power Built-in Self-Test Scheme Based on Overlapping Bit Swapping Linear Feedback Shift Register [J] . Bin Zhou, Xinchun Wu, Yu Sun, Journal of Low Power Electronics . 2013,第4期

机译：基于重叠位交换线性反馈移位寄存器的低功耗内置自测方案
4. Test generator with preselected toggling for low power built-in self-test [C] . Rajski Janusz, Tyszer Jerzy, Mrugalski Grzegorz, VLSI Test Symposium (VTS), 2012 IEEE 30th . 2012

机译：具有预选切换功能的测试发生器，用于低功耗内置自测试
5. A programmable memory built-in self-test for SRAM. [D] . Chinthala, Nishanth Reddy. 2010

机译：内置可编程存储器，用于SRAM自检。
6. A low power and low ripple CMOS high voltage generator for RFID transponder EEPROM [O] . Labonnah Farzana Rahman, Mohammad Marufuzzaman, Lubna Alam, 2020

机译：用于RFID应答器EEPROM的低功耗低纹波CMOS高压发生器
7. SCHEDULING TESTS FOR LOW POWER BUILT-IN SELF-TEST [O] . Tobias Schuele, Albrecht I Stroele 2015

机译：用于低功率内置自测试的测试测试

Low power address generator for memory built-in self-test

摘要

著录项

引文网络

相似文献

相关主题

期刊订阅