En este proyecto, se ha desarrollado un sistema para la medida del perfil de índice derefracción en fibras ópticas mediante la técnica de reflexión.Se ha diseñado un sistema automatizado de medida controlado por LabVIEW, que realizamediciones locales de reflectividad Fresnel equiespaciadas entre sí 1 um.El programa en LabVIEW convierte estas medidas de reflectividad en un perfil bidimensionalde índice de refracción, y posteriormente aplica un ajuste no lineal por mínimos cuadradosde manera iterativa, calculando los cuatro parámetros caracterísiticos del perfil de índice derefracción en una fibra de índice gradual: índice máximo del núcleo (n1), diferencia relativade índice de refracción (-), radio del núcleo (a) y exponente (-).El sistema se ha probado sobre fibras de dos tipos (sílice y CYTOP), ambas con núcleo de62;5 um. Las pruebas se realizaron con latiguillos comerciales conectorizados FC/PC, y semidieron de manera no destructiva, sin retirar ni los conectores ni la cubierta de la fibra.
展开▼
