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【2h】

Low-Transition Test Pattern Generation for BIST-Based Applications

机译：基于BIsT的应用的低转换测试模式生成

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Mehrdad Nourani; Senior Member; Mohammad Tehranipoor; Nisar Ahmed; Student Member;
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年度 2014
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1. Low-Transition Test Pattern Generation for BIST-Based Applications [J] . Nourani M., Tehranipoor M., Ahmed N. IEEE Transactions on Computers . 2008,第3期

机译：针对基于BIST的应用程序的低过渡测试模式生成
2. A Review on Test Pattern Generation for Low Power Built In Self Test Application [J] . Australian Journal of Basic and Applied Sciences . 2014,第2014期

机译：内置自测应用中低功耗测试模式生成的综述
3. A Review on Test Pattern Generation for Low Power Built In Self Test Application [J] . D. Mahesh Kumar, Dr.R. Kannusamy Australian Journal of Basic and Applied Sciences . 2014,第2014期

机译：内置自测应用中低功耗测试模式生成的综述
4. Comparative Study of Test Pattern Generation Systems to Reduce Test Application Time [C] . Patare Snehal Dilip, Geethu Remadevi Somanathan, Ramesh Bhakthavatchalu International Symposium on Embedded Computing and System Design . 2019

机译：减少测试应用时间的测试模式生成系统的比较研究
5. Test pattern generation techniques that target low test application time. [D] . Abdulrahman, Arkan. 2008

机译：针对测试时间短的测试模式生成技术。
6. Modeling and Testing of Flexible Structures with Selected Planar Patterns Used in Biomedical Applications [O] . Pavel Marsalek, Martin Sotola, David Rybansky, 2021

机译：生物医学应用中使用的柔性结构的建模与测试
7. LOW POWER TEST PATTERN GENERATION FOR BIST APPLICATIONS [O] . 2015

机译：BIsT应用的低功率测试模式生成
8. Laboratory Instrumentation Design Research for Scalable Next Generation Epitaxy: Non-Equilibrium Wide Application Epitaxial Patterning by Intelligent Control (NEW-EPIC). Volume 1. 3D Composition/Doping Control via Micromiror Patterned Deep UV Photodesorption: Revolutionary in situ Characterization/Control [R] . Doolittle, W. A., Frazier, A. B., Burnham, S. D., 2009

机译：可扩展下一代外延的实验室仪器设计研究：通过智能控制的非平衡宽应用外延图案化（NEW-EpIC）。第1卷。通过micromiror图案化深紫外光解吸附进行3D成分/掺杂控制：革命性的原位表征/控制

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