机译:用于钨涂层碳材料的无损表征的X射线微束透射/荧光方法
机译:通过使用微聚焦同步加速器X射线束的X射线荧光显微镜扫描对组合材料进行成分表征
机译:使用单个粒子电荷检测对气动聚焦粒子束进行无损表征和对准
机译:使用纳米聚焦X射线束表征纳米线器件
机译:宽带隙半导体材料和器件结构的无损X射线表征
机译:聚焦螺旋X射线束的生成和表征
机译:高聚焦声束对空气耦合超声材料的定量表征
机译:用于非破坏性检查和高级材料表征的X射线断层扫描显微镜。最终报告,1992年5月22日 - 1994年5月21日