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Design For Test Technique for Leakage Power Reduction in Nanoscale Static Random Access Memory

机译：纳米级静态随机存取存储器漏电功率降低测试技术设计

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N. M. Sivamangai;
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年度 2015
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3. Design For Test Technique for Leakage Power Reduction in Nanoscale Static Random Access Memory | Science Publications [J] . Gunavathi, N. M. Sivamangai Journal of computer sciences . 2011,第8期

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