首页> 外文OA文献 >Test generation for bridging faults in CMOS ICs based on current monitoring versus signal propagation

【2h】

Test generation for bridging faults in CMOS ICs based on current monitoring versus signal propagation

机译：基于电流监测与信号传播的测试生成CmOs IC中的桥接故障

页面导航

著录项
相似文献
相关主题

著录项

作者
U. Gläser; H. T. Vierhaus; M. Kley; A. Wiederhold;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 1994
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. Test generation for I/sub DDQ/ testing of bridging faults in CMOS circuits [J] . Bollinger S.W., Midkiff S.F. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems . 1994,第11期

机译：用于I / sub DDQ /测试CMOS电路中的桥接故障的测试生成
2. Current testability analysis of feedback bridging faults in CMOS circuits [J] . Roca M., Rubio A. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems . 1995,第10期

机译：CMOS电路中反馈桥接故障的电流可测性分析
3. An experimental study of testing techniques for bridging faults in CMOS ICs [J] . Lanzoni M., Favalli M. IEEE Journal of Solid-State Circuits . 1993,第6期

机译：CMOS IC桥接故障测试技术的实验研究
4. Test Generation For Bridging Faults In CMOS ICs Based On Current Monitoring Versus Signal Propagation [C] . Glaser, U., Vierhaus, . 2001

机译：基于电流监控和信号传播的CMOS IC桥接故障测试生成
5. Test generation and evaluation for bridging faults in CMOS VLSI circuits. [D] . Lee, Terry Ping-Chung. 1995

机译：测试生成和评估CMOS VLSI电路中的桥接故障。
6. Leakage Current Non-Uniformity and Random Telegraph Signals in CMOS Image Sensor Floating Diffusions Used for In-Pixel Charge Storage [O] . Alexandre Le Roch, Vincent Goiffon, Olivier Marcelot, 2019

机译：泄漏电流非均匀性和随机电报信号在CMOS图像传感器浮动扩散中用于贴上像素的电荷存储器
7. Test Generation for Current Testing of Bridging Faults in CMOS VLSI Circuits [O] . Terry Lee, Ibrahim N. Hajj 1996

机译：CmOs VLsI电路中桥接故障电流测试的测试生成

Test generation for bridging faults in CMOS ICs based on current monitoring versus signal propagation

著录项

相似文献

相关主题

期刊订阅