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机译:1介电干涉检测和介电纳米粒子的尺寸测定
A. Yurt; G. G. Daaboul; X. Zhang; G. M. Hwang; B. B. Goldberg; M. S. Ünlü;
机译:针对TEM尺寸分布校准的单个金纳米粒子的干涉检测
机译:从贵金属纳米颗粒的复介电函数确定等离子体频率,阻尼常数和尺寸分布
机译:椭圆偏振光谱法测定介电基体中硅纳米粒子的光学性质和尺寸色散
机译:介电纳米粒子的宽视场干涉检测和尺寸确定
机译:纳米颗粒的干涉检测。
机译:纳米复合电介质中纳米粒子与聚合物界面的局部介电性能检测
机译:通过测量等离子体频率,阻尼常数和尺寸分布 贵金属纳米粒子的复介电功能
机译:基于干涉场检测的纳米颗粒上浆装置和方法
机译:基于干涉场检测的纳米粒子尺寸测定装置及方法
机译:基于光学力和干涉场检测的纳米颗粒定径装置和方法
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