机译:基于LS-SVM模式识别器的二元过程方差漂移辨识模型
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机译:基于LS-SVM的模式识别模型在(321-3551-1-PB)微加工中的平均位移诊断与识别。
机译:使用基于LS-SVM的模式识别模型识别二元过程方差变化的来源
机译:设计模式中基于模型的行为衰减的识别,分类和评估
机译:基于大鼠基底外侧杏仁核和海马神经元的Izhikevich模型的改进并认识其可能的射击模式
机译:统计特征-用于二元过程均值漂移模式识别的ANN识别器
机译:基于微处理器的模式识别器开发系统。第一卷