首页> 外文OA文献 >Managing Leakage for Transient Data: Decay and Quasi-Static 4T Memory Cells
【2h】

Managing Leakage for Transient Data: Decay and Quasi-Static 4T Memory Cells

机译:管理瞬态数据泄漏:衰变和准静态4T存储单元

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号