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机译:纳米压痕硅酸盐低K介电薄膜
Joseph B. Vella; Alex A. Volinsky; Indira S. Adhihetty; N. V. Edwards; W. Gerberich;
机译:通过纳米压痕法测量脆性薄膜弹性特性的缓冲层结构及其在纳米多孔低k电介质上的应用
机译:纳米压痕法测量低介电常数薄膜的断裂韧性,附着力和力学性能
机译:用于微电子应用的有机硅玻璃(OSG)低k介电薄膜的机械性能和断裂韧性
机译:硅酸盐低介电常数薄膜的纳米压痕
机译:纳米海绵,低k介电薄膜和氧化物玻璃中的声激发。
机译:用于微和纳米电子应用的低k介电薄膜的热稳定性的宽带介电光谱表征
机译:纳米压痕的二维有限元模拟提取多孔超薄低k薄膜的弹性模量
机译:恢复用作金属间电介质的低K和超低K有机硅酸盐薄膜的疏水性
机译:CVD电介质和旋涂低k硅酸盐薄膜之间的粘合增强
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