Fault Detection of Memory-Cell-Faults in Sequential Circuit Using Transition-Tour

摘要

順序回路の故障を検出する方法としては,既に幾つかの考え方が発表されている.本論文では比較的簡単にテスト系列を発生でき,高い故障検出率を持つ遷移路ツアー(すべての遷移路を少なくとも一度は通る)のための入力系列(T_s系列)による,記憶素子が論理縮退故障を起した回路に対する故障検出について検討を行った.記憶素子が論理的縮退故障を起した回路にランダムな入力系列を加えて遷移させたとき,遷移した結果存在する状態には極限分布の存在することを明らかにし,極限分布とみなし得る状態以降に続けてT_s系列を加えたときの故障検出率を理論的に求めた.又,コンピュータによる故障検出のシミュレーションを行い,実際の故障検出においては理論値として求められた最悪の場合の故障検出率よりかなり高い検出率を期待できるという結果が得られた.