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Dynamic Fault Collapsing and Diagnostic Test Pattern Generation for Sequential Circuits

机译：顺序电路的动态故障折叠和诊断测试模式生成

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W. Kent Fuchs;
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年度 1998
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1. Fuzzy delay model based fault simulator for crosstalk delay fault test generation in asynchronous sequential circuits [J] . Jayanthy S., Bhuvaneswari M. C. Sadhana: Academy Proceedings in Engineering Science . 2015,第1期

机译：基于模糊延迟模型的故障模拟器，用于异步时序电路中的串扰延迟故障测试生成
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机译：基于模糊延迟模型的故障模拟器，用于异步时序电路中的串扰延迟故障测试生成
3. Test generation for acyclic sequential circuits using combinational ATPG for single stuck-at faults [J] . Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue, Akio Tamura 電子情報通信学会技術研究報告. VLSI設計技術. VLSI Design Technologies . 2000,第473期

机译：使用组合式ATPG进行非循环时序电路测试以解决单个卡死故障
4. Dynamic fault collapsing and diagnostic test pattern generation for sequential circuits [C] . Boppana, V., Fuchs, . 1998

机译：时序电路的动态故障折叠和诊断测试模式生成
5. Parallel algorithms for sequential circuit fault simulation and test generation. [D] . Krishnaswamy, Dilip. 1997

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6. Test Generation Algorithm for Fault Detection of Analog Circuits Based on Extreme Learning Machine [O] . Jingyu Zhou, Shulin Tian, Chenglin Yang, 2014

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7. Test Pattern Generation for Sequential MOS Circuits by Symbolic Fault Simulation [O] . Cho, Kyeongsoon, Bryant, Randal E. 1989

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8. Dynamic Fault Collapsing and Diagnostic Test Pattern Generation for Sequential Circuits [R] . Boppana, V. , Fuchs, W. K. 1998

机译：顺序电路的动态故障折叠和诊断测试模式生成

Dynamic Fault Collapsing and Diagnostic Test Pattern Generation for Sequential Circuits

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