Fault-Detection for Sequential Machines Using Transition-Tours

摘要

状態遷移回路と出力回路が共通な部分をもつ順序回路に遷移路ツアーを用いる故障検出テストを適用した場合について検討し,最悪の場合の故障検出率を与える式を得た。その結果,このような回路においては,共通部分をもたない回路に較べて高い検出率を期待できるということが判明