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【2h】

Compressed bit fail maps for memory fail pattern classification

机译：用于内存失败模式分类的压缩位失败映射

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Jorg Vollrath; Ulf Lederer; Thomas Hladschik;
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年度 2001
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1. Compressed Bit fail maps for memory fail pattern classification [J] . Jorg Vollrath, Ulf Lederer, Thomas Hladschik Journal of Electronic Testing: Theory and Applications: Theory and Applications . 2001,第3a4期

机译：用于内存失败模式分类的压缩位失败映射
2. A Regularized Singular Value Decomposition-Based Approach for Failure Pattern Classification on Fail Bit Map in a DRAM Wafer [J] . Kim B., Jeong Y., Tong S.H., Semiconductor Manufacturing, IEEE Transactions on . 2015,第1期

机译：基于规则奇异值分解的DRAM晶圆故障位图上故障模式分类的方法
3. Neural Patterns are More Similar across Individuals during Successful Memory Encoding than during Failed Memory Encoding [J] . Koch Griffin E., Paulus John P., Coutanche Marc N. Cerebral cortex . 2020,第7期

机译：在成功的内存编码期间，神经图案比在失败的内存编码期间更相似
4. Compressed bit fail maps for memory fail pattern classification [C] . Vollrath J., Lederer U., Hladschik T. European Test Workshop, 2000. Proceedings. IEEE . 2000

机译：用于内存故障模式分类的压缩位故障图
5. Implementation Intentions Failed to Reduce Commission Errors in a Demanding Habitual Prospective Memory Paradigm [D] . Andrade, Angel Munoz Gomez. 2018

机译：实施意图未能减少苛刻的习惯性预期记忆范例中的委员会错误
6. Sperm fine-needle aspiration (FNA) mapping after failed microdissection testicular sperm extraction (TESE): location and patterns of found sperm [O] . Sheba Jarvis, Heather K Yee, Natalia Thomas, 2019

机译：显微解剖睾丸精子提取失败（TESE）后精子细针穿刺（FNA）映射：发现的精子的位置和模式
7. Sperm fine-needle aspiration (FNA) mapping after failed microdissection testicular sperm extraction (TESE): location and patterns of found sperm [O] . PaulJ Turek, Sheba Jarvis, HeatherK Yee, 2019

机译：精子细小针痉挛（FNA）映射失败后的微小微粉睾丸精子萃取（TESE）：发现精子的位置和模式
8. Restoring Low Sidelobe Antenna Patterns with Failed Elements in a Phased Array Antenna. [R] . Krich, S. I., Weiner, I. 2016

机译：在相控阵天线中恢复失败元素的低旁瓣天线模式。

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