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【2h】

Partial-scan delay fault testing of asynchronous circuits

机译：异步电路的部分扫描延迟故障测试

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Michael Kishinevsky; Alex Kondratyev; Luciano Lavagno; Alexander Saldanha; Alexander Taubin;
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年度 1998
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1. Partial-scan delay fault testing of asynchronous circuits [J] . Kishinevsky M., Kondratyev A. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems . 1998,第11期

机译：异步电路的部分扫描延迟故障测试
2. Fuzzy delay model based fault simulator for crosstalk delay fault test generation in asynchronous sequential circuits [J] . Jayanthy S., Bhuvaneswari M. C. Sadhana: Academy Proceedings in Engineering Science . 2015,第1期

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3. Fuzzy delay model based fault simulator for crosstalk delay fault test generation in asynchronous sequential circuits [J] . S Jayanthy, M C Bhuvaneswari Sadhana . 2015,第1期

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4. Testing Delay Faults in Asynchronous Handshake Circuits [C] . Feng Shi, Yiorgos Makris IEEE/ACM International Conference on Computer Aided Design . 2006

机译：在异步握手电路中测试延迟故障
5. Testing for path delay faults in synchronous digital circuits. [D] . Bose, Soumitra. 1996

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6. Test Generation Algorithm for Fault Detection of Analog Circuits Based on Extreme Learning Machine [O] . Jingyu Zhou, Shulin Tian, Chenglin Yang, 2014

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8. Delay Free Realization of Asynchronous Sequential Switching Circuits Using Constrained Gate Delay Ratios. [R] . palmquist,steven robert 1973

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