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机译:机械特性对介电薄膜化学机械抛光的影响
Wei-tsu Tseng A; Chi-wen Liu B; Bau-tong Dai; Ching-fa Yeh;
机译:低介电常数聚合物薄膜的性能和化学机械抛光特性:PAE-2和Flare 2.0
机译:铝合金薄膜的化学机械抛光:浆料化学性质和抛光机理
机译:取决于设备的介电膜化学机械抛光控制
机译:低介电常数聚酰亚胺薄膜化学机械抛光研究
机译:用于集成巨型磁阻非易失性存储器的介电薄膜的化学机械抛光。
机译:浆料组成对金刚石薄膜化学机械抛光的影响
机译:铜化学机械抛光中介电腐蚀和铜凹陷的模拟
机译:具有多晶硅和氧化硅电介质的基体的化学机械抛光的水抛光组合物和方法
机译:水抛光组合物和化学机械抛光基材的方法,包括基于OKSIDKREMNIEVOGO电介质和多晶硅的薄膜
机译:包含氧化硅,电介质和多晶硅的基体的水抛光组合物和化学机械抛光方法
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