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【2h】

Highly Reliable SRAM Circuit Technology Using FinFETs

机译：使用FinFET的高度可靠的sRam电路技术

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Kazuhiko Endo; Takashi Matsukawa; Yongxun Liu; Yuki Ishikawa; Junichi Tsukada; Hiromi Yamauchi; Kunihiro Sakamoto; Meishoku Masahara;
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年度 2016
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