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【2h】

Hidden Markov Models to Identify Pilot Instrument Scanning and Attention Patterns

机译:用于识别试验仪器扫描和注意模式的隐马尔可夫模型

著录项

  • 作者

    Miwa Hayashi;

  • 作者单位
  • 年度 2013
  • 总页数
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  • 正文语种
  • 中图分类

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