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【2h】

Beam Test of a Large Area n-on-n Silicon Strip Detector with Fast Binary Readout Electronics

机译：具有快速二进制读出电子器件的大面积n-on-n硅条检测器的光束测试

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Unno Nakao; Y. Unno; M. Nakao; K. Fujita; A. Ciocio; J. Dane; T. Dubbs; J. Emes; M. Gilchriese; A. Grillo; C. Haber; T. Handa; S. Holland;
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1. Beam test of a large area n-on-n silicon strip detector with fast binary readout electronics [J] . Unno Y., Nakao M. IEEE Transactions on Nuclear Science . 1997,第3期

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机译：具有快速二进制读出电子设备的大面积n-n-n硅条检测器的光束测试
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