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机译:原始延迟故障:可测试性的识别,测试和设计
Angela Krstic; Kwang-Ting (Tim) Cheng; Srimat T. Chakradhar;
机译:使用测试点的大型组合电路中路径延迟故障的可测试性设计
机译:使用RTL信息通过错误路径识别减少延迟故障的过度测试
机译:基本延迟故障可测试性设计
机译:扫描设计中过渡延迟故障的新测试生成方法。
机译:基因测试在识别患有运动猝死风险的遗传性原发性心脏疾病的年轻运动员中的作用
机译:使用测试点的大型组合电路的路径延迟故障的可测试性设计
机译:路径延迟故障的可测试性设计方法和路径延迟故障的测试模式生成方法
机译:原始故障的识别和测试生成
机译:使用一级电源门控的低功耗扫描设计和延迟故障测试技术
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