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机译:利用多时钟方案提高延迟故障测试的测试效率
Jing-Jia Liou; Li-C. Wang; Kwang-Ting Cheng; Jennifer Dworak;
机译:评估LUT的延迟故障可测试性,以增强与应用相关的FPGA测试
机译:基于不可测路径分析的路径延迟故障故障效率统计估计
机译:通过重复检测到的故障和维修延迟时间来评估调试测试效率
机译:使用多时钟方案提高延迟故障测试的测试效率
机译:压缩机制可减少测试模式计数,并针对路径延迟故障进行分段延迟故障测试
机译:考虑故障排除效率和错误产生的测试覆盖软件可靠性模型
机译:使用增强的随机访问扫描减少测试路径延迟故障的测试时间
机译:延迟故障测试程序,延迟故障测试设备和延迟故障测试方法
机译:通过使用增强型扫描触发器在延迟故障测试中改善过渡延迟故障覆盖率的系统和方法
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