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【2h】

Efficient pattern mapping for deterministic logic BIST

机译：确定性逻辑BIsT的高效模式映射

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Valentin Gherman; Hans-joachim Wunderlich; Harald Vranken; Friedrich Hapke; Michael Wittke;
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年度 2004
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1. Test-Per-Clock Logic BIST with Semi-Deterministic Test Patterns and Zero-Aliasing Compactor [J] . O. NOVAK, Z. PLIVA, J. NOSEK, Journal of Electronic Testing: Theory and Applications: Theory and Applications . 2004,第1期

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2. An efficient deterministic test pattern generator for scan-based BIST environment [J] . Wei-Lun Wang, Kuen-Jong Lee Journal of Electronic Testing: Theory and Applications: Theory and Applications . 2002,第1期

机译：用于基于扫描的BIST环境的高效确定性测试模式生成器
3. Synopsys moves into market for logic BIST with deterministic tool [J] . Ron Wilson Electronic Engineering Times . 2002,第1239期

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