首页> 外文OA文献 >Reducing Power Dissipation During Test Using Scan Chain Disable

【2h】

Reducing Power Dissipation During Test Using Scan Chain Disable

机译：使用扫描链禁用降低测试期间的功耗

页面导航

著录项
引文网络
相似文献
相关主题

著录项

作者
Ranganathan Sankaralingam; Bahram Pouya; Nur A. Touba;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 2001
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. Compression/Scan Co-design for Reducing Test Data Volume, Scan-in Power Dissipation, and Test Application Time [J] . Yu HU, Yinhe HAN, Xiaowei LI, IEICE Transactions on Information and Systems . 2006,第10期

机译：压缩/扫描协同设计，可减少测试数据量，减少扫描功率损耗和测试应用时间
2. A Low Power Deterministic Test Using Scan Chain Disable Technique [J] . Zhiqiang YOU, Tsuyoshi IWAGAKI, Michiko INOUE, IEICE Transactions on Information and Systems . 2006,第6期

机译：使用扫描链禁用技术的低功耗确定性测试
3. Scan Chains Testing for Latches to Reduce Area and the Power Consumption [J] . Anusuya Yuvaraj, R. C. Biradar Computer Science & Information Technology . 2012,第3期

机译：闩锁的扫描链测试以减少面积和功耗
4. Reducing power dissipation during test using scan chain disable [C] . Sankaralingam, R., Pouya, . 2001

机译：使用扫描链禁用功能降低测试期间的功耗
5. An efficient relaxation-based test width compression technique for multiple scan chain testing. [D] . Ali, Mustafa Imran. 2006

机译：一种有效的基于松弛的测试宽度压缩技术，用于多扫描链测试。
6. Power of the Mantel-Haenszel and Other Tests for Discrete or Grouped Time-to-event Data Under a Chained Binomial Model [O] . John M. Lachin -1

机译：Mantel-Haenszel的力量和其他测试在链式的二项式模型下的离散或分组的时间到事件数据
7. Compression/Scan Co-design for Reducing Test Data Volume, Scan-in Power Dissipation, and Test Application Time [O] . Xiaoqing Went 2016

机译：压缩/扫描协同设计，用于降低测试数据量，扫描功耗和测试应用时间

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

客服微信
服务号