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An Efficient Scan Tree Design for Compact Test Pattern Set

机译：紧凑型测试模式集的高效扫描树设计

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年度 2008
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1. An Efficient Scan Tree Design for Compact Test Pattern Set [J] . Banerjee S., Chowdhury D. R., Bhattacharya B. B. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems . 2007,第7期

机译：紧凑测试模式集的高效扫描树设计
2. Design of Optimal Scan Tree Based on Compact Test Patterns for Test Time Reduction [J] . Chen Linfeng, Cui Aijiao, Chang Chip-Hong Computers, IEEE Transactions on . 2015,第12期

机译：基于紧凑测试模式的最优扫描树设计以减少测试时间
3. Efficient BIST TPG design and test set compaction via input reduction [J] . Chih-Ang Chen, Gupta S.K. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems . 1998,第8期

机译：通过减少输入来进行高效的BIST TPG设计和测试装置压实
4. An efficient scan tree design for compact test pattern set [C] . Banerjee, S., Chowdhury, . 2006

机译：用于紧凑测试模式集的高效扫描树设计
5. Generation of compact test sets and a design for the generation of tests with low switching activity. [D] . Kumar, Amit. 2014

机译：生成紧凑的测试集，并设计用于生成开关活动低的测试。
6. AUTOMATIC QUANTIFICATION OF TREE-IN-BUD PATTERNS FROM CT SCANS [O] . Ulas Bagci, Kirsten Miller-Jaster, Jianhua Yao, -1

机译：自动数量化树芽格局从CT扫描
7. Hybrid Delay Scan: A Low Hardware Overhead Scan-Based Delay Test Technique for High Fault Coverage and Compact Test Sets [O] . Seongmoon Wang 2004

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