机译:ATR-FTIR Kretschmann光谱学用于对涂有硅烷膜和环氧II的隐藏铝表面进行界面研究。电解质暴露期间通过集成的ATR-FTIR和EIS进行分析,并通过原位ATR-FTIR和原位IRRAS进行补充研究
机译:用EPMA和XPS分析电解铬酸盐薄膜的状态
机译:EPMA和XPS的电解铬酸盐膜的状态分析
机译:CDS膜中的杂质沉淀物的FTIR,EPMA,螺旋钻和XPS分析
机译:由由壳聚糖和导电聚合物组成的薄膜中的薄膜的质量点的原位合成中获得的纳米分解=从壳聚糖和导电的复合薄膜中出于原位合成CDRSE的原位合成中获得的纳米复合材料
机译:法尼醇暴露于白色念珠菌生物膜中差异基因表达的cDNA芯片分析
机译:法尼醇暴露于白色念珠菌生物膜中差异基因表达的cDNA芯片分析
机译:Cds薄膜中杂质沉淀物的光谱分析