首页> 外文OA文献 >A New Approach for Testing MOS Circuits based on Large Defects

【2h】

A New Approach for Testing MOS Circuits based on Large Defects

机译：一种基于大缺陷测试mOs电路的新方法

页面导航

著录项
引文网络
相似文献
相关主题

著录项

作者
Reinhard Rauscher; Bernd Schütz;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 2007
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. Improvement of integrated circuit testing reliability by using the defect based approach [J] . Dominik Kasprowicz, Witold A. Pleskacz Microelectronics & Reliability . 2003,第6期

机译：通过使用基于缺陷的方法来提高集成电路测试的可靠性
2. A defect-based compact modeling approach for the reliability of CMOS devices and integrated circuits [J] . Ivan S. Esqueda, Hugh J. Barnaby Solid-State Electronics . 2014,第jana期

机译：基于缺陷的紧凑建模方法，用于CMOS器件和集成电路的可靠性
3. A Practical Approach to Obtain Defect Matrix for Integrated Circuit Testing [J] . LARISSA SOARES, CLEONILSON SOUZA WSEAS Transactions on Communications . 2017,第Pta2期

机译：获得集成电路测试缺陷矩阵的实用方法
4. A new approach for testing MOS circuits based on large defects [C] . Rauscher, R., Schutz, Instrumentation and Measurement Technology Conference, 1999. IMTC/99. Proceedings of the 16th IEEE . 1999

机译：一种基于大缺陷的MOS电路测试新方法
5. Architectural and defect-based test and diagnosis techniques for RF integrated circuits. [D] . Acar, Erkan. 2008

机译：射频集成电路的架构和基于缺陷的测试和诊断技术。
6. Rational design of modular circuits for gene transcription: A test of the bottom-up approach [O] . Francesca Ceroni, Simone Furini, Emanuele Giordano, 2010

机译：用于基因转录的模块化电路的合理设计：自下而上方法的测试
7. Defect-based testing of LTS digital circuits [O] . Joseph Arun Anthony 2006

机译：基于缺陷的LTs数字电路测试

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

客服微信
服务号