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机译:用于定时测量和测试的片上结构
D. J. Kinniment; O. V. Maevsky; A. Bystrov; G. Russell; A. V. Yakovlev;
机译:片上结构,用于时序测量和测试
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机译:片上时序测量。
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机译:用于3D复合材料测试微观结构的快速,可靠且劣质的片上质量测量
机译:单级金属测试结构,用于集成电路的差分时序和可变性测量
机译:整体电路的差分时序和可变性测量的金属测试结构的单层
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