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机译:IEEE 1500在sOC设计和测试中的应用
Yervant Zorian; Avetik Yessayan;
机译:基于IEEE 1500标准的片上SOC测试平台设计
机译:使用增强型IEEE 1500测试包装器的SOC中小型RAM的低成本自测技术
机译:使用扩展的IEEE 1500标准进行SOC互连测试
机译:IEEE 1500在SOC设计和测试中的利用率
机译:用于测试2D / 3D SoC的安全和体系结构设计探索。
机译:光学CAD在LED路灯的设计和测试中的应用
机译:基于IEEE-1500的soC的低成本扫描测试
机译:支持SOC核心逻辑转换延迟故障的IEEE 1500 WRAPPER单元以及使用WRAPPER单元的测试方法
机译:支持SoC核心逻辑的转换延迟故障的IEEE 1500包装器单元以及使用该包装器单元的测试方法
机译:IEEE 1149.1和P1500测试接口组合的电路和过程
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