Built-In Self-Test for Programmable I/O Buffers in FPGAs and SoCs

机译：针对FPGA和SoC中的可编程I / O缓冲器的内置自测试

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Sudheer Vemula; Student Member; Charles Stroud;
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年度 2008
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1. Built-In Self-Test Quality Assessment Using Hardware Fault Emulation In FPGAs [J] . Parreira, Abílio, Teixeira, Computing and informatics . 2012,第5a6期

机译：使用FPGA中的硬件故障仿真进行内置自测质量评估
2. BUILT-IN SELF-TEST QUALITY ASSESSMENT USING HARDWARE FAULT EMULATION IN FPGAS [J] . Abilio PARREIRA, J. Paulo TEIXEIRA, Marcelino B. SANTOS Computing and informatics . 2004,第5a6期

机译：在FPGA中使用硬件故障仿真进行内置的自测质量评估
3. FPGAs can function as SoCs using the latest EDA tools: The reprogrammability of FPGAs is particularly useful, but designing FPGA-based SoCs requires a more sophisticated methodology [J] . Salil Raje Portable Design: The Engineer's Resource for Portable Applications . 2004,第5期

机译：使用最新的EDA工具，FPGA可以用作SoC：FPGA的可重编程性特别有用，但是设计基于FPGA的SoC需要更复杂的方法
4. Built-In Self-Test for Programmable I/O Buffers in FPGAs and SoCs [C] . Vemula, S., Stroud, . 2006

机译：针对FPGA和SoC中的可编程I / O缓冲器的内置自测试
5. A programmable memory built-in self-test for SRAM. [D] . Chinthala, Nishanth Reddy. 2010

机译：内置可编程存储器，用于SRAM自检。
6. A ΣΔ Closed-Loop Interface for a MEMS Accelerometer with Digital Built-In Self-Test Function [O] . Dongliang Chen, Xiaowei Liu, Liang Yin, 2018

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7. Soft core embedded processor based built-in self-test of FPGAs [O] . Bradley F. Dutton, Charles E. Stroud 2015

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