首页> 外文OA文献 >Defect-Oriented Test Methodology for Complex Mixed-Signal Circuits F.C.M. Kuijstermans

【2h】

Defect-Oriented Test Methodology for Complex Mixed-Signal Circuits F.C.M. Kuijstermans

机译：复杂混合信号电路的面向缺陷的测试方法库伊斯特曼斯

代理获取

本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务，本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文，但由于OA文献来源多样且变更频繁，仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况，如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

页面导航

著录项
引文网络
相似文献
相关主题

著录项

作者
A. P. Thijssen; M. Sachdev;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 2014
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. A Comprehensive Methodology to Rate SETs of Complex Analog and Mixed-Signal Circuits Demonstrated on 16-bit A-to-D Converters [J] . Zanchi A., Buchner S., Hisano S., Nuclear Science, IEEE Transactions on . 2012,第6期

机译：评估在16位模数转换器上演示的复杂模拟和混合信号电路的SET的综合方法
2. Making complex mixed-signal telecommunication integrated circuits testable [J] . Roberts G.W., Dufort B. IEEE Communications Magazine . 1999,第6期

机译：使复杂的混合信号电信集成电路可测试
3. Defect-Oriented Testing of RF Circuits [J] . Acar E., Ozev S. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems . 2008,第5期

机译：射频电路的面向缺陷的测试
4. Defect-oriented test methodology for complex mixed-signal circuits [C] . Kuijstermans F.C.M., Sachdev M., Thijssen A.P. European Design and Test Conference, 1995. EDTC 1995, Proceedings. . 1995

机译：面向复杂混合信号电路的面向缺陷的测试方法
5. Efficient testability design methodologies for analog/mixed-signal integrated circuits. [D] . Wang, Cheng-Ping. 1997

机译：用于模拟/混合信号集成电路的高效可测试性设计方法。
6. Differential Temperature Sensors: Review of Applications in the Test and Characterization of Circuits Usage and Design Methodology [O] . Enrique Barajas, Xavier Aragones, Diego Mateo, 2019

机译：差分温度传感器：电路测试和表征用途和设计方法中的应用综述
7. Practical Implementation of Defect-Oriented Testing for a Mixed-Signal Class-D Amplifier [O] . Beurze, R.H., Xing, Y, Xing, Y., 1999

机译：混合信号D类放大器的面向缺陷的测试的实际实现

Defect-Oriented Test Methodology for Complex Mixed-Signal Circuits F.C.M. Kuijstermans

著录项

引文网络

相似文献

相关主题

期刊订阅