首页> 外文OA文献 >RT-Level Design-for-Testability and Expansion of Functional Test Sequences for Enhanced Defect Coverage ∗

【2h】

RT-Level Design-for-Testability and Expansion of Functional Test Sequences for Enhanced Defect Coverage ∗

机译：RT级可测试性设计和功能测试序列的扩展，以增强缺陷覆盖率*

代理获取

本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务，本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文，但由于OA文献来源多样且变更频繁，仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况，如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

页面导航

著录项
引文网络
相似文献
相关主题

著录项

作者
Alodeep Sanyal; Krishnendu Chakrabarty; Mahmut Yilmaz; Hideo Fujiwara;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 2013
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. RTL DFT Techniques to Enhance Defect Coverage for Functional Test Sequences [J] . Hongxia Fang, Krishnendu Chakrabarty, Hideo Fujiwara Journal of Electronic Testing: Theory and Applications: Theory and Applications . 2010,第2期

机译：RTL DFT技术可增强功能测试序列的缺陷覆盖率
2. RTL DFT Techniques to Enhance Defect Coverage for Functional Test Sequences [J] . Hongxia Fang, Krishnendu Chakrabarty, Hideo Fujiwara Journal of Electronic Testing . 2010,第2期

机译：RTL DFT技术可增强功能测试序列的缺陷覆盖率
3. Invisible-Scan: A Design-for-Testability Approach for Functional Test Sequences [J] . Pomeranz Irith IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems . 2019,第12期

机译：Invisible-Scan：功能测试序列的可测试性设计方法
4. RT-level design-for-testability and expansion of functional test sequences for enhanced defect coverage [C] . IEEE International Test Conference 2010 . 2010

机译：RT级可测试性设计和功能测试序列的扩展，以增强缺陷覆盖率
5. Design-for-testability techniques for deep submicron technology. [D] . Das, Debaleena. 2000

机译：深亚微米技术的可测试性设计技术。
6. Insurance coverage stage at diagnosis and time to treatment following dependent coverage and Medicaid expansion for men with testicular cancer [O] . Adam B. Weiner, Stephen Jan, Ketan Jain-Poster, 2020

机译：保险范围诊断阶段依赖于睾丸癌症的依赖覆盖和医疗补助扩容后的治疗时间
7. Non-Scan Design-for-Testability Techniques Using RT-Level Design Information [O] . Sujit Dey, Miodrag Potkonjak 1997

机译：使用RT级设计信息的非扫描设计可测试性技术

RT-Level Design-for-Testability and Expansion of Functional Test Sequences for Enhanced Defect Coverage ∗

著录项

引文网络

相似文献

相关主题

期刊订阅