机译:基于扫描的BIST的RTL VHDL规范中的可测性分析和测试点插入
机译:TAO-BIST:RTL电路内置自检的可测试性分析和优化框架
机译:基于符号可测性分析的RTL电路的BIST方案
机译:在RTL中进行可测性分析和BIST插入的方法
机译:位切片数据路径设计中的可测试性插入:伪穷举BIST方法。
机译:支持数据和方法来表征与pH-(低)-插入肽缀合的氧化铁纳米颗粒测试其细胞毒性以及在带有MDA-MB231肿瘤的SCID小鼠中的生物分布分析
机译:TAO-BIST:用于BIST的可测试性分析和RTL电路优化的框架