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机译:N-on-N硅条检测器N侧P挡结构的评估
Unno Kitabayashi Dick; Y. Unno; H. Kitabayashi; B. Dick; T. Dubbs; A. Grillo; M. Ikeda; Y. Iwata; S. Kashigin; E. Kitayama; W. Kroeger; T. Kohriki;
机译:在n-on-n硅条检测器的n侧评估p-stop结构
机译:硅微带检测器N侧条形隔离的最佳p停止模式
机译:硅微带检测器n侧的新型p挡结构
机译:评估n-on-n硅条探测器n侧的p挡结构
机译:高分辨率临床前SPECT成像,带高分辨率硅双面条形检测器。
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机译:评估n-on-n硅条检测器n侧的P挡结构
机译:声表面波分量具有薄膜金属化系统的条状结构,作为指状电极,其条状结构部分或完全被基于钽或硅的薄膜包裹
机译:电子工业中使用的组件包括基板,结构化的硅层和结构化的导电层,结构化的导电层包含带状导体并排列在基板和硅层之间
机译:用于下水道管道机器人的检测器设备,用于检测隐藏结构,例如:建筑物墙壁中的空腔,具有评估装置,该评估装置设计用于评估天线的后向反射电信号的相位和数量
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