机译:I_DDQ测试在微控制器设备故障分析中的应用
机译:高密度CMOS SRAM的故障分析:使用实际的缺陷建模和I / sub DDQ /测试
机译:扫描半导体器件故障分析中的探针显微镜应用
机译:使用I / sub DDQ /测试的VLSI电路的计算机辅助故障分析
机译:面向微型设备的早期疾病检测:用于生物分析应用的微型整体分析系统的制造和测试。
机译:心力衰竭患者与设备之间达成协议的6分钟步行测试期间心率变异性分析的可重复性
机译:IDDQ测试在微控制器设备故障分析中的应用
机译:案例历史:由电阻栅极氧化物短路引起的I(sub DDQ)升高的功能IC的晶片级故障分析。