首页> 外文OA文献 >A Genetic Approach to Test Application Time Reduction for Full Scan and Partial Scan Circuits

【2h】

A Genetic Approach to Test Application Time Reduction for Full Scan and Partial Scan Circuits

机译：一种用于减少全扫描和部分扫描电路测试时间的遗传方法

页面导航

著录项
引文网络
相似文献
相关主题

著录项

作者
Elizabeth M. Rudnick; Janak H. Patel;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 1995
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. Test application time reduction for sequential circuits with scan [J] . Soo Young Lee, Saluja K.K. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems . 1995,第9期

机译：使用扫描减少时序电路的测试应用时间
2. Transparent scan: a new approach to test generation and test compaction for scan circuits that incorporates limited scan operations [J] . Pomeranz I., Reddy S.M. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems . 2003,第12期

机译：透明扫描：一种用于扫描电路的测试生成和测试压缩的新方法，其中包含有限的扫描操作
3. On reducing test application time for scan circuits using limited scan operations and transfer sequences [J] . Yonsang Cho, Pomeranz I., Reddy S.M. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems . 2005,第10期

机译：使用有限的扫描操作和传输序列减少扫描电路的测试应用时间
4. A genetic approach to test application time reduction for full scan and partial scan circuits [C] . Rudnick, E.M., Patel, . 1995

机译：一种用于减少全扫描和部分扫描电路的应用时间的遗传方法
5. Reducing test application time for scan circuits using limited scan operations. [D] . Cho, Yonsang. 2005

机译：使用有限的扫描操作减少扫描电路的测试应用时间。
6. Laser-scanning Photostimulation of Optogenetically Targeted Forebrain Circuits [O] . Charles C. Lee, Ying-Wan Lam, Kazuo Imaizumi, 2013

机译：激光扫描光致目标前脑电路的光刺激。
7. 1 Design for Testability Strategies Using Full/Partial Scan Designs and Test Point Insertions to Reduce Test Application Times [O] . 2015

机译：1使用完整/部分扫描设计和测试点插入的可测试性策略设计，以减少测试应用程序时间
8. Application of the Semi-Empirical Force-Limiting Approach for the CoNNeCT SCAN Testbed. [R] . Staab, L. D., McNelis, M. E., Akers, J. C., 2012

机译：半经验力限制法在CoNNeCT扫描测试平台中的应用。

A Genetic Approach to Test Application Time Reduction for Full Scan and Partial Scan Circuits

著录项

引文网络

相似文献

相关主题

期刊订阅